EDX3600L考古檢測(cè)X熒光光譜儀

儀器介紹

EDX3600L考古檢測(cè)X熒光光譜儀，利用中國歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測(cè)的部門提供的標(biāo)準(zhǔn)陶瓷片樣品為儀器標(biāo)定基準(zhǔn)標(biāo)樣，一次性同時(shí)分析古陶瓷標(biāo)本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學(xué)成份含量，再對(duì)照中國古陶瓷數(shù)據(jù)庫便達(dá)到斷代斷源的功效。同時(shí)，為了更好的利用X熒光分析儀器的無損測(cè)量特性，我公司特意根據(jù)行業(yè)需要制作超大型抽真空樣品腔，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測(cè)。

EDX3600L考古檢測(cè)X熒光光譜儀在測(cè)試陶瓷的同時(shí)亦測(cè)試青銅器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、貴金屬（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化學(xué)成份和金屬鍍層厚度，做到一機(jī)多用，是古文物檢測(cè)*的科學(xué)檢測(cè)儀器。中國歷史博物館、中國收藏家協(xié)會(huì)等古文物收藏部門都是其用戶。

技術(shù)指標(biāo)

產(chǎn)品名稱：Skyray X熒光光譜儀 

型號(hào)：EDX3600L      

測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）

元素含量分析范圍：1ppm—99.99% 

同時(shí)分析元素：同時(shí)分析30種以上元素

測(cè)量鍍層：鍍層厚度測(cè)量zui薄至0.01微米

測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體 

測(cè)量時(shí)間：60s—200s  

管壓：5KV—50KV 

管流：50uA—1000uA 

輸入電壓：AC 110V/220V  

消耗功率：200W   

環(huán)境溫度: 15-26℃  

相對(duì)濕度: ≤70% 

標(biāo)準(zhǔn)配置

超薄窗大面積的*SDD探測(cè)器

內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器信號(hào)處理能力25倍

可自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片 

光路增強(qiáng)系統(tǒng) 

內(nèi)置高清晰攝像頭

加強(qiáng)的金屬元素感度分析器 

智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。

面光源

放大電路

高低壓電源

X光管

多變量非線性回歸程序

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。

三重安全保護(hù)模式

外觀尺寸： 800×710×1360 mm 

樣品腔尺寸：600×600×1000mm

重量：280kg

EDX3600L考古檢測(cè)X熒光光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域

古陶瓷

古青銅器

古首飾

鍍層測(cè)厚